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GB_T 5170.20-2022 環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 第20部分：水試驗(yàn)設(shè)備
2024-12-11
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GB_T 5170.13-2018 環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 第13部分：振動(dòng)(正弦)試驗(yàn)用機(jī)械式振動(dòng)系統(tǒng)(回收站2024-12-11 16:10)
2024-12-11
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GB_T 5170.14-2009 環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢驗(yàn)方法 振動(dòng)（正弦）試驗(yàn)用電動(dòng)振動(dòng)臺(tái)
2024-12-11
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GB_T 2423.5-2019 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ea和導(dǎo)則：沖擊(回收站2024-12-11 16:10)
2024-12-11
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GB_T 2423.6-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Eb和導(dǎo)則碰撞
2024-12-11
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GB_T 2423.7-2018 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分_試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ec_粗率操作造成的沖擊（主要用于設(shè)備型樣品）
2024-12-11
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GB_T 2423.8-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ed自由跌落(回收站2024-12-11 16:10)
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GB_T 2423.13-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分-試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fdb-寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)-中再現(xiàn)性
2024-12-11
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GB_T 2423.14-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fda 寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)—低再現(xiàn)性
2024-12-11
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GB_T 2423.12-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分-試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fda-寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)-高再現(xiàn)性
2024-12-11
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