對于數(shù)字電路，由于功率較低，所以元器件實際工作的溫度差并不大。但是隨著大功率器件/功率密度的快速發(fā)展，以及產(chǎn)品開發(fā)和上市周期的縮短，相應(yīng)的試驗驗證的挑戰(zhàn)越來越大。

    對于大功率半導(dǎo)體器件有人希望可以借助于有限元仿真分析和測試結(jié)果進行快速計算。
    對于功率半導(dǎo)體，其內(nèi)部結(jié)構(gòu)材料不同而導(dǎo)致熱膨脹系數(shù)不同，所以在溫度溫降的過程中就會導(dǎo)致疲勞的產(chǎn)生而發(fā)生失效。通常對此類失效的測試方法多用 溫度沖擊試驗箱測試，低溫-40，高溫125。眾多的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)也都是這么推薦的。但是隨著產(chǎn)品體積的縮小，功率密度的提高和新的冷卻技術(shù)的出現(xiàn)，半導(dǎo)體內(nèi)部連接可靠性和電子遷移挑戰(zhàn)已經(jīng)成為關(guān)鍵，而這無法通過溫度沖擊來覆蓋。所以作者就對開關(guān)機循環(huán)進行研究，希望能夠找到更加的方法來代替溫度沖擊時間對功率半導(dǎo)體可靠性進行快速評估。
    通過設(shè)計專門的測試板來對功率三極管進行試驗，對比溫度沖擊試驗和開關(guān)循環(huán)的數(shù)據(jù)，評估兩者的效果。
    溫度沖擊：低溫-40，高溫125，每500循環(huán)檢查一次
    開關(guān)循環(huán)：一個循環(huán)1000s（上電650s，斷電冷卻350s），每150s采集一次數(shù)據(jù)，550mA，每1000循環(huán)檢查一次
    試驗結(jié)果顯示兩種試驗的失效都是由于熱膨脹系數(shù)的差異導(dǎo)致的，這很重要哦，這是兩者能否相互對比的關(guān)鍵。
     溫度沖擊試驗4000循環(huán)內(nèi)未發(fā)現(xiàn)失效。而開關(guān)循環(huán)有鉛制程的失效發(fā)生在4500循環(huán)，無鉛制程失效發(fā)生在5200循環(huán)。

    基于實際測試的顯微分析來看，開關(guān)循環(huán)的對于失效的影響更大。

    基于作者之前的經(jīng)驗，過孔的失效發(fā)生速度遠高于貼片元器件。實際測試結(jié)果也對此給予了數(shù)據(jù)支撐，試驗結(jié)果顯示2000-3000循環(huán)內(nèi)過孔發(fā)生了失效。

    切片后的圖片顯示，即使三極管的功能正常，但是內(nèi)部已經(jīng)出現(xiàn)了失效，只是由于封裝的壓力才使得其電氣連接正常。

    開關(guān)循環(huán)對于功率半導(dǎo)體的效果確實比較不錯，但是對于非功率半導(dǎo)體的效果就很差，這個大家必須注意。另外開展開關(guān)循環(huán)需要我們具備比較好的動手能力來進行編程和特殊設(shè)備和夾具的定制和安裝調(diào)試等工作，實際會面臨一些新問題，需要我們?nèi)タ朔?br>     對于從事新能源BDU或者其它大功率脈沖工作的可靠性工程師對于開關(guān)循環(huán)的試驗條件和設(shè)置等多做一些功課。也歡迎一起交流討論。